一、什么叫液擊？ 答：（1）低溫試驗(yàn)箱壓縮機(jī)制冷劑因未能或未充分吸熱蒸發(fā)，制冷劑液體或濕蒸汽被壓縮機(jī)吸入到壓縮機(jī)內(nèi)稱為液擊。 二、什么原因能引起低溫試驗(yàn)箱壓縮機(jī)液擊？ 答：（1）氣液分離器或低壓循環(huán)桶的液位控制失靈，導(dǎo)致液位非常高。 （2）供液量過(guò)大，供液過(guò)急。節(jié)流閥內(nèi)漏或開(kāi)度過(guò)大。 （3）蒸發(fā)器或氣液分離器（低壓循環(huán)桶）存液過(guò)多、熱負(fù)荷小、開(kāi)機(jī)時(shí)加載過(guò)快。 （4）熱負(fù)荷突然加大；或沖霜后未及時(shí)調(diào)整吸氣閥。 三、低溫試驗(yàn)箱壓縮機(jī)液擊后會(huì)造成什么后果？ 答：對(duì)于活塞機(jī)：（1）制冷劑進(jìn)入壓縮機(jī)，使?jié)櫥�油產(chǎn)生大量氣泡、破壞潤(rùn)滑表面的油膜，同時(shí)使油壓不 穩(wěn)定。 （2）使運(yùn)動(dòng)部件在沒(méi)有良好潤(rùn)滑的條件下運(yùn)轉(zhuǎn)，導(dǎo)致拉毛；嚴(yán)重時(shí)抱軸、主軸瓦巴氏合 金熔化。 （3）制冷劑進(jìn)入壓縮機(jī)，使氣缸套急劇冷卻收縮，抱住活塞；嚴(yán)重時(shí)損壞缸套、活塞、 連桿、活塞銷。 （4）因液體不可壓縮，連桿、活塞在潮車情況下受到的作用力遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)設(shè)計(jì)值，較易引 起損壞；因液體不可壓縮，在潮車情況下，排氣閥組連同假蓋會(huì)被液體沖擊抬起；嚴(yán)重 時(shí)會(huì)導(dǎo)致安全彈簧變形，甚至發(fā)生撞碎機(jī)體、缸蓋，擊穿墊片而傷害人身的惡性事故。 對(duì)于螺桿機(jī)：液擊會(huì)引起振動(dòng)、增加噪聲，轉(zhuǎn)子和軸承（受力過(guò)大）而受損；嚴(yán)重的液擊也會(huì)損壞設(shè)備、引起事故。文章出自北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司 [詳情]

　　在高低溫試驗(yàn)箱制冷裝置中使用的壓力繼電器，按其壓力控制范圍分為低壓繼電器和高壓繼電器兩類。也有將這兩種繼電器組裝在一個(gè)殼體內(nèi)，共用一個(gè)電觸頭的，構(gòu)成組合式高低壓繼電器�！　≡诟叩蜏卦囼�(yàn)箱制冷壓縮機(jī)上往往裝有一個(gè)直接控制起動(dòng)電路的低壓繼電器，它以壓縮機(jī)吸氣壓力為動(dòng)作信號(hào)，其功用為：　　1、當(dāng)吸氣壓力過(guò)低時(shí)，使壓縮機(jī)自動(dòng)停機(jī)，防止空氣從管路或軸封處漏入系統(tǒng)，起低壓保護(hù)作用�！　�2、在小型高低溫試驗(yàn)箱制冷裝置中，除起低壓保護(hù)外，尚可使壓縮機(jī)按調(diào)定的吸氣壓力自動(dòng)起停，以保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度穩(wěn)定，起溫度調(diào)節(jié)作用。在大、中型高低溫試驗(yàn)室中，因壓縮機(jī)啟動(dòng)電流非常大，所以多不用低壓繼電器來(lái)自動(dòng)啟動(dòng)壓縮機(jī)，因此它僅起低壓保護(hù)作用�！　〕�此之外，在一些壓縮機(jī)上還裝有控制能量自動(dòng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)電磁闊的低壓繼電器，它可按高低溫試驗(yàn)箱壓縮機(jī)的吸氣壓力的變化，來(lái)增減壓縮機(jī)的工作缸數(shù)，使系統(tǒng)的蒸發(fā)溫度保持穩(wěn)定。低壓繼電器也可用作裝置中其它設(shè)備的低壓保護(hù)設(shè)備。文章出自北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司 [詳情]

高低溫實(shí)驗(yàn)箱作為環(huán)試行業(yè)重要的成員之一，在我們?cè)囼?yàn)中扮演著十分重要的角色。然而在使用過(guò)程中，噪音卻時(shí)刻出現(xiàn)在我們的耳邊。用戶對(duì)高低溫實(shí)驗(yàn)箱的靜音效果越來(lái)越關(guān)注。如何有效減弱高低溫實(shí)驗(yàn)箱的噪音問(wèn)題呢？ 一、適當(dāng)墊高高低溫實(shí)驗(yàn)箱的四個(gè)角 將高低溫實(shí)驗(yàn)箱墊高3-6厘米并調(diào)整四角平衡，使箱體底部空氣對(duì)流空間加大。這樣，壓縮機(jī)噪音和下部其他噪音從箱體底部出來(lái)，減少了從高低溫實(shí)驗(yàn)箱兩側(cè)及上部出來(lái)的噪音。 二、壓縮機(jī)底座要上牢固 如果用手緊按壓縮機(jī)后，噪聲明顯減低，將手抬起噪聲又加大，這種情況一般是壓縮機(jī)底座固定減振膠墊受力不均或螺栓松動(dòng)、壓縮機(jī)底板不牢固造成的。應(yīng)調(diào)整、擰緊連接部分螺栓并更換失去彈力的墊圈。 三、管路與高低溫實(shí)驗(yàn)箱箱體加固牢靠 要檢查調(diào)整外管路與箱體之間連接加固部分是否松動(dòng)，從而避免高低溫實(shí)驗(yàn)箱壓縮機(jī)工作時(shí)產(chǎn)生共振。為了避免松動(dòng)，外管路一定要固定好，螺栓要加彈簧墊圈。文章出自北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司 http://www.bjyashilin.com/ [詳情]

大家都知道高低溫試驗(yàn)箱電源是380V，但根據(jù)客戶場(chǎng)地限制，部分高低溫試驗(yàn)箱電源可改為220V，這時(shí)大家就有疑問(wèn)，為什么要配備單相三級(jí)插座呢？就我國(guó)來(lái)說(shuō)，電力是十分緊張，尤其是在用電高峰時(shí)期，此時(shí)電壓往往會(huì)大大的降低。在部分地區(qū)或用電低峰時(shí)，也會(huì)出現(xiàn)高達(dá)時(shí)期，甚至更高的電壓。試驗(yàn)箱的電器部件如壓縮機(jī)電機(jī)等，其工作電壓范圍部有一定的要求，超過(guò)這一范圍時(shí)，會(huì)引起壓縮機(jī)工作不正常甚至燒毀。實(shí)際運(yùn)行表明，壓縮機(jī)燒毀的原因大部分與電壓異常有關(guān)。 高低溫試驗(yàn)箱對(duì)單相三級(jí)插座的原因： 1、單相三較插座上3個(gè)較分別為火線L零線H和接地線x，X中E由供電配電線路接到大地端，其電位與大地等電位而為零。 2、當(dāng)試驗(yàn)箱的電氣元件絕緣降低或失效時(shí)，將導(dǎo)致恒溫恒濕試驗(yàn)箱金屬外殼帶電，當(dāng)人體觸及其上時(shí)，會(huì)有觸電危險(xiǎn)。因此，在高低溫試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)時(shí)，其金屬外殼與電源線插頭上的E較是相連的，一旦外殼帶電，則由E較導(dǎo)入大地，使外完始終保持在零電位，而不會(huì)對(duì)人體造成危害。 有的恒溫恒濕試驗(yàn)箱用戶雖然也配用三較插座，但其中的E較處于懸空狀態(tài)，這不符合安全要求，應(yīng)另裝接地線。高低溫試驗(yàn)箱說(shuō)明書(shū)中強(qiáng)調(diào)要求接地正是從安全角度考慮的。文章來(lái)源：北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司 [詳情]

國(guó)軍標(biāo)GJB150.1標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了高低溫試驗(yàn)箱對(duì)溫差的要求，標(biāo)準(zhǔn)第三條：要考慮試件周圍（必要的支撐處除外）空氣的邊界效應(yīng)，并應(yīng)保持試件周圍溫度的均勻性。為確保試件暴露在所要求的空氣溫度下，應(yīng)將傳感器布置在試件周圍有代表性的點(diǎn)上，并盡量靠近試件，但所測(cè)的空氣溫度不應(yīng)受到試件溫度的影響。各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的溫度均不應(yīng)超過(guò)規(guī)定的±2℃。試件不工作時(shí)其周圍的溫度梯度不應(yīng)超過(guò)1℃/m，且總溫差不應(yīng)超過(guò)2.2℃。 高低溫試驗(yàn)箱以下情況下溫度充差可以加大： 1、體積大于5立方米的試件，溫度允差為±3℃；若允差超過(guò)±3℃，應(yīng)證明其合理性，并得到訂購(gòu)方的批準(zhǔn)； 2、當(dāng)高低溫試驗(yàn)箱溫度的規(guī)定值大于100℃時(shí)，其允差為±5℃。并應(yīng)說(shuō)明實(shí)際達(dá)到的允差。文章來(lái)源：北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司 [詳情]

本文出自北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司環(huán)境試驗(yàn)箱GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)下載合集： GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ) GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B 高溫 GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán)) GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed 自由跌落 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb 設(shè)備用恒定濕熱 GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc 振動(dòng)（正弦） GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—高再現(xiàn)性 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--中再現(xiàn)性 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--低再現(xiàn)性 GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga 和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J及導(dǎo)則:長(zhǎng)霉 GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.18-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb 鹽霧，交變（氯化納溶液） GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法 GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法 GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M 低氣壓 GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N 溫度變化 GB/T 2423.23-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封 GB/T 2423.24-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa模擬地面上的太陽(yáng)輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／AM 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／BM 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T:錫焊 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度 GB/T 2423.30-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬 GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法 GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ta:潤(rùn)濕稱量法可焊性 GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca 高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法 GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法 GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L 沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 GB/T 2423.41-2013 中文標(biāo)準(zhǔn)名稱: 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 風(fēng)壓 GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦) 綜合試驗(yàn)方法 GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg:撞擊 彈簧錘 GB/T 2423.45-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZABDM:氣候順序 GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef:撞擊 擺錘 GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg:聲振 GB/T 2423.48-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff振動(dòng) GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe:振動(dòng)--正弦拍頻法 GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.51-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn) GB/T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn) 所謂環(huán)境試驗(yàn)是將產(chǎn)品暴露在自然環(huán)境或人工模擬環(huán)境中，從而對(duì)它們實(shí)際上會(huì)遇到的貯存、運(yùn)輸和使用條件下的性能做出評(píng)價(jià)。通過(guò)環(huán)境試驗(yàn)，可提供設(shè)計(jì)質(zhì)量和產(chǎn)品質(zhì)量方面信息，這是質(zhì)量保證的重要手段。 [詳情]