本系統(tǒng)應(yīng)用于TCO光伏玻璃的透射光譜掃描測(cè)量，該產(chǎn)品可以安裝在AZO的鍍膜后或成品的下片臺(tái)處，可以帶霧度進(jìn)行透射光譜的在線(xiàn)快速掃描測(cè)量，是TCO光伏玻璃的必備檢測(cè)設(shè)備。  銷(xiāo)售經(jīng)理：王秀芹 158 111 86705 公司名稱(chēng):北京奧博泰科技有限公司 企業(yè)類(lèi)型： 經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)型主營(yíng)行業(yè)：建筑玻璃//鍍膜玻璃 建筑玻璃//low-e玻璃 原片玻璃//超白玻璃 檢測(cè)設(shè)備/

采用網(wǎng)絡(luò)化連接，鍍膜室和測(cè)量室多位置觀測(cè) 可安裝在退火窯A0 區(qū)及退火緊急落片前 可選擇膜面反射光譜掃描或玻璃面光譜掃描 自行設(shè)定掃描方式并自動(dòng)給出相關(guān)光學(xué)性能數(shù)據(jù) 高品質(zhì)在線(xiàn)LOW-E 鍍膜必備檢測(cè)設(shè)備 銷(xiāo)售經(jīng)理王秀芹：   公司名稱(chēng):北京奧博泰科技有限公司 企業(yè)類(lèi)型： 經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)型主營(yíng)行業(yè)：建筑玻璃//鍍膜玻

設(shè)備采用網(wǎng)絡(luò)化連接，配置靈活 自動(dòng)動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)技術(shù)，設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間無(wú)漂移 特殊設(shè)計(jì)的校準(zhǔn)樣品盒，避免粉塵飄落污染樣品 自主開(kāi)發(fā)軟件控制系統(tǒng)，適合國(guó)內(nèi)用戶(hù)使用習(xí)慣 開(kāi)放控制接口，方便與鍍膜控制系統(tǒng)聯(lián)動(dòng) 銷(xiāo)售經(jīng)理：王秀芹 158 111 86705 公司名稱(chēng):北京奧博泰科技有限公司 企業(yè)類(lèi)型： 經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)型主營(yíng)行業(yè)：建筑玻璃//鍍膜玻璃 建筑玻璃//low-e玻璃 原片玻璃//

Sheet Resistivity Scanning Measurement System P.ID  本系統(tǒng)應(yīng)用于TCO光伏玻璃的面電阻掃描測(cè)量，該產(chǎn)品可以安裝在AZO的鍍膜后或成品的下片臺(tái)處，是TCO光伏玻璃的必備檢測(cè)設(shè)備。 It is used to non-contact 

本系統(tǒng)應(yīng)用于TCO光伏玻璃面電阻測(cè)量，橫向多點(diǎn)分布，快速測(cè)量鍍膜玻璃的橫向均勻性，用于要求快速行進(jìn)測(cè)量的生產(chǎn)線(xiàn)安裝。 It is used to measure the sheet resistivity in TCO PV glass line and c

本系統(tǒng)應(yīng)用于浮法在線(xiàn)LOW-E 鍍膜生產(chǎn)線(xiàn)連續(xù)板處的非接觸式面電阻的測(cè)量，根據(jù)測(cè)量的面電阻數(shù)值換算出輻射率值，從而在線(xiàn)監(jiān)控LOW-E 鍍膜玻璃縱向紅外性能的穩(wěn)定性。 It is used to scanning measure the sheet resistivity in 

本系統(tǒng)應(yīng)用于卷繞鍍膜機(jī)靶室內(nèi)膜層的透射光譜性能監(jiān)測(cè)，用于監(jiān)控每一層膜的光譜數(shù)據(jù)與目標(biāo)光譜曲線(xiàn)的符合狀況，是大批量穩(wěn)定鍍膜生產(chǎn)的必要檢測(cè)設(shè)備。 It is used to inspect the spectral transmission for functional layers in&

本系統(tǒng)用于在線(xiàn)測(cè)量卷繞鍍膜的薄膜面電阻性能，采用多點(diǎn)非接觸式測(cè)量，避免劃傷成品膜層表面，根據(jù)膜寬需要可以配置多點(diǎn)面電阻探頭,是卷繞功能鍍膜的必備檢測(cè)設(shè)備。 It is used to non-contact measure the sheet resistivity in winding 

本系統(tǒng)用于在線(xiàn)監(jiān)測(cè)薄膜鍍制過(guò)程中的光密度數(shù)值變化情況，給出準(zhǔn)確的光密度隨時(shí)間的變化曲線(xiàn)，監(jiān)控鍍膜的過(guò)程，本系統(tǒng)可選用LED 單波長(zhǎng)測(cè)量或全光譜各波長(zhǎng)的光密度數(shù)值測(cè)量。 It is used to inspect the changes of optical density during&